Sinyal bütünlüğü testi, dalga formu testi, göz diyagramı testi, seğirme testi vb. İçin temel yöntemlerin birçoğu olduğu anlamına gelir, sinyal bütünlüğü testi yöntemi daha yaygın olarak uygulanır, yani osiloskop kullanılarak dalga formu testi olmalıdır. test dalga formu genliği, kenar ve çapak vb., dalga formu parametrelerinin test edilmesi yoluyla, genlik, zaman sınırı gibi cihaz arayüz seviyesinin gereksinimlerini karşılayıp karşılamadığını görebileceğiniz, sinyal çapak gibi var.
Sinyal bütünlüğünün test yöntemleri üç kategoriye ayrılabilir. Bu yöntemlerin bazı açıklamaları aşağıda verilmiştir.
Jitter testi
TIA (zaman aralığı analizörü) ve SIA3000 gibi özel titreşim test cihazları çok pahalı olduğundan ve nadiren kullanıldığından, titreşim testi günümüzde gittikçe daha fazla ilgi görüyor. En çok kullanılan osiloskop artı TEK' TDSJIT3 yazılımı gibi yazılım işlemedir. Yazılım, RJ ve DJ gibi bileşenleri ve DJ'deki bileşenleri işler. Bu test için, seçilen osiloskop, uzun depolama ve yüksek hızlı örnekleme, 2M'den fazla bellek ve 20GSa / s örnekleme hızı gibi gerekli koşullardır. Ancak şimdiye kadar, seğirme testinin sonuçları şirketten şirkete önemli ölçüde değişiklik gösteriyor ve hiç kimse bir otorite veya endüstri standardı değil.
Dalga formu testi
İlk gereksinim, ana bilgisayar ve sondanın birlikte yeterli bant genişliği oluşturmasıdır. Temel olarak, test sisteminin bant genişliği, test sinyalinin bant genişliğinin 3 katından fazladır. Uygulamada, bazı mühendisler rastgele test etmek için bazı problar bulurlar veya hatta A şirketinin probunu B şirketinin osiloskopuna takarlar, bu da doğru sonuçlar almayı zorlaştırır.
Dalga formu testi, genellikle osiloskop kullanılarak yapılan sinyal bütünlüğü testinde en çok kullanılan yöntemdir, esas olarak dalga formu genliği, kenar ve çapak vb. Testler yapılır. Dalga formu testi parametreleri aracılığıyla genlik ve kenar zamanı cihazların arayüz seviyesi gereksinimlerini ve sinyal çapağı olup olmadığını vs. karşılar. Osiloskop çok genel bir alet olduğu için hemen hemen tüm donanım mühendisleri onu kullanabilir, ancak bu herkesin onu iyi kullanabileceği anlamına gelmez. Doğru bir sinyal almak için dalga formu testi de bazı gereksinimleri takip etmelidir.
İkincisi, detaylara dikkat edin. Örneğin, test noktası genellikle alıcı cihazın pimine yerleştirilir. BGA kapsüllenmiş cihaz gibi pime durum sınırı konulamazsa, PCB yönlendirme hattına veya pime en yakın deliğe yerleştirilebilir. Alıcı cihazın pinlerinden çok uzakta, sinyal yansıması nedeniyle, test sonuçları gerçek sinyallerden oldukça farklı olabilir. Probun topraklama kablosu olabildiğince kısa olmalıdır.
Son olarak, eşleşmeye dikkat etmeniz gerekiyor. Bu, esas olarak durumu test etmek için koaksiyel kablonun kullanılması içindir, koaksiyel doğrudan osiloskopa bağlanır, yük genellikle 50 ohm'dur ve dc bağlantı ve bazı devreler için, doğrudan test sistemine bağlanan dc önyargı çalışmayı etkileyecektir. devrenin durumu, bu nedenle test normal dalga formu olamaz.
Göz diyagramı testi
Göz çizelgesi testi, özellikle E1 / T1, USB, 10 / 100base-T ve optik arayüz gibi özellik gereksinimleri olan arayüzler için yaygın bir test yöntemidir. Bu standart arayüz sinyallerinin göz haritası testi, genel olarak, evrensel osiloskoplar, örnekleme osiloskopları veya sinyal analizörleri dahil olmak üzere MASK osiloskopları ile gerçekleştirilir. Bu osiloskoplar, göz haritasını görüntülemek için dahili saat çıkarma işlevine sahiptir ve MASKESİZ osiloskoplar için, tetikleme için harici bir saat kullanılabilir. Göz diyagramı test fonksiyonunu kullanın, test dalga formlarının sayısına dikkat etmeniz gerekir, özellikle arayüz göz diyagramının spesifikasyonlara uygun olduğuna karar vermek için, miktar çok az, dalga formunun titremesi küçüktür, bu gibi bir ihlal olabilir. Dalga formu MASK'in belirli bir bölümüne, daha az toplayabilir, hata yaparak, sayı çok fazla, tüm test süresinin çok uzun olmasına, verimliliğin yüksek olmamasına, genellikle test dalga formu miktarının 2000'den az olmamasına neden olur, yaklaşık 3000 uygun.
Analiz yazılımı ile göz çizelgesindeki düzensizliklerin detaylarını görüntüleyebilirsiniz. Örneğin, MASKEDE, daha önce bilinmeyen bazı numune noktaları düşürüldü, çünkü tüm numune noktaları toplandığından, toplam etki uzun bir görüntüye benziyor. Yeni cihaz, uzun süreli depolamasından yararlanarak dalga biçimini toplar ve görüntüler, böylece dalga biçiminin her ayrıntısı korunabilir. Bu nedenle, dalga biçiminin 000010 veya 101010 olup olmadığı gibi dalga biçiminin düzensizliklerini kontrol edebilir. Bu işlev, donanım mühendisinin sorunun kökünü bulmasına yardımcı olabilir.
